我正在寻找一种方法来存储（利用SQLServer2008）并可视化来自制造过程的高分辨率数据。
这些数据与木条表面有关。详细地说，我收集的数据是高频率（250个工艺参数，每个木条测量3500次），与木条的工艺参数和表面缺陷有关。
我想要的是解析如下的查询： - 在一个包含数千个木条的整个生产期内检索某个木材区域内的所有可用人力资源数据。 或更好 - 在包含大量工作木条的生产期间检索木条的某个区域内的所有高分辨率数据（由X，Y坐标定义）。
我知道DW解决方案的潜在可能性，但我不知道经典DW是否有助于处理这类问题，或者是否利用某些空间假设，即每次测量的X坐标。 / p>
谢谢，
Nko文