使用OrderedDecoupledHWIOTester测试多个解耦输入端口

Question

OrderedDecoupledHWIOTester是否支持测试具有两个或更多去耦输入端口的DUT？

例如：

有没有办法表达类似的内容：

inputEvent（decoupledPort1.bits＆lt; - 10）

inputEvent（decoupledPort2.bits＆lt; - 11）

创建两个并发进入这两个端口的值系列？

Answer 1

简短的回答是否定的。 OrderedDecoupledHWIOTester 的 Ordered 部分表示输入事件不是并发的。我想你可以使用chisel3.iotesters.AdvTester来实现这一点。但我没有看到任何好的例子。我会看看我是否可以创建一个。